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手機(jī)跌落測(cè)試方法及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)介紹

瀏覽次數(shù): | 2020-07-17 09:13

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  手機(jī)跌落測(cè)試(Drop Test)是模擬用戶(hù)在使用過(guò)程中從手中、口袋中、或者桌面上跌落到地上過(guò)程的測(cè)試,簡(jiǎn)單地說(shuō),就是測(cè)試產(chǎn)品的抗摔能力,抗摔能力越好表明產(chǎn)品在摔落到地上后損壞的可能性越小。手機(jī)跌落試驗(yàn)適用于確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間遭受的抗跌落能力,確定安全要求用的最低牢固等級(jí)。
 
跌落測(cè)試
 
  手機(jī)跌落測(cè)試
 
  測(cè)試條件:1.5m高度,20mm厚大理石地板。(對(duì)于PDA手機(jī),根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門(mén)的建議可調(diào)整為跌落高度為1.3m)
 
  測(cè)試目的:跌落沖擊試驗(yàn)
 
  試驗(yàn)方法:將手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)進(jìn)行跌落。對(duì)于直握手機(jī),進(jìn)行6個(gè)面的自由跌落實(shí)驗(yàn),每個(gè)面的跌落次數(shù)為1次,每個(gè)面跌落之后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。對(duì)于翻蓋手機(jī),進(jìn)行8個(gè)面的自由跌落實(shí)驗(yàn);其中一半樣品合上翻蓋按直握手機(jī)的方法進(jìn)行跌落,另一半樣品在跌正面和背面時(shí)須打開(kāi)翻蓋;對(duì)于滑蓋手機(jī),應(yīng)將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。跌落結(jié)束后對(duì)外觀、結(jié)構(gòu)和功能進(jìn)行檢查。
 
  口試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):手機(jī)外觀,結(jié)構(gòu)和功能符合要求。
 
  參考標(biāo)準(zhǔn)
 
  GB/T2423.8-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:實(shí)驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落
 
  本試驗(yàn)分為兩種方法。第一種方法通常是用來(lái)模擬非包裝狀態(tài)的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能經(jīng)受到的自由跌落,釋品通常是按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上兩次。第二種方法通常用來(lái)模擬附在電纜上的連接器、小型遙控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復(fù)自由跌落。使試驗(yàn)樣品從規(guī)定高度重復(fù)跌落到規(guī)定的表面上。它是通過(guò)使用合適的設(shè)備,例如(旋轉(zhuǎn))滾筒來(lái)實(shí)現(xiàn)的。

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胡玲

胡玲 2012年進(jìn)入億博檢測(cè)技術(shù)有限公司,擔(dān)任高級(jí)銷(xiāo)售顧問(wèn)。
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