EMC認(rèn)證常見(jiàn)電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目有哪些？EMC電磁兼容性是指電磁不干擾其他設(shè)備、即使受到其他設(shè)備干擾也能保持原本的性能和功能，EMC包含兩大部分，一個(gè)是電磁兼容抗擾度EMS,一個(gè)是電磁兼容發(fā)射EMI。
EMI電磁干擾由于IC工作產(chǎn)生噪聲（EMI），給周邊IC和系統(tǒng)帶來(lái)干擾或有干擾性的電磁波，需要設(shè)計(jì)不產(chǎn)生EMI的電路。
EMS電磁敏感性即使受到外界的干擾也不會(huì)造成干擾的能力與耐受性，產(chǎn)品的抗電磁干擾能力需要比較強(qiáng)大。
傳導(dǎo)噪聲：由線(xiàn)束和PCB板布線(xiàn)傳導(dǎo)的噪聲；
輻射噪聲：釋放輻射到空氣中的噪聲。
差模噪聲是有用的信號(hào)，共模噪聲是無(wú)用的信號(hào)。
差模噪聲輻射強(qiáng)度正比于環(huán)路電流I，頻率平方，環(huán)路面積，反比于輻射源和干擾源距離，共模噪聲正比于共模電流I，頻率，線(xiàn)纜長(zhǎng)度，反比于輻射源和干擾源距離。環(huán)路面積越大，線(xiàn)纜越長(zhǎng)，EMI和EMC性能都不好。
差模干擾和共模干擾只是由于不同的耦合路徑下造成的結(jié)果，本質(zhì)上還是要從干擾源可能引起的路徑出發(fā)。
常見(jiàn)電磁兼容測(cè)試項(xiàng)目：
1、輻射發(fā)射測(cè)試（Radiated Emissions Testing）：輻射測(cè)試旨在測(cè)量設(shè)備產(chǎn)生的電磁輻射（通常以射頻信號(hào)形式）是否在法定頻率范圍內(nèi)，并且是否在規(guī)定的輻射限值內(nèi)。這些測(cè)試通常包括射頻傳導(dǎo)測(cè)試和射頻輻射測(cè)試。
2、傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試（Conducted Emissions Testing）：傳導(dǎo)測(cè)試是為了測(cè)量設(shè)備中的電磁噪聲是否以電流或電壓的形式傳導(dǎo)到電源線(xiàn)或信號(hào)線(xiàn)上，從而進(jìn)入電源或其他設(shè)備。這種噪聲可能會(huì)影響其他設(shè)備的正常運(yùn)行。
3、靜電放電（ESD）測(cè)試：這項(xiàng)測(cè)試評(píng)估設(shè)備的抗靜電放電能力。設(shè)備可能在操作或運(yùn)輸中會(huì)受到靜電放電的影響，因此必須能夠抵抗這種干擾。
4、電快速瞬態(tài)脈沖測(cè)試（Electrical Fast Transient/Burst Testing）：該測(cè)試旨在模擬電源線(xiàn)上的快速瞬態(tài)脈沖，通常由電源切換或其他突然的電流波動(dòng)引起。設(shè)備必須能夠抵御這種類(lèi)型的突發(fā)干擾。
5、射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)（Radiated Susceptibility Testing）：這些測(cè)試用于模擬設(shè)備是否容易受到來(lái)自外部電磁場(chǎng)的影響，這些影響可能導(dǎo)致設(shè)備性能下降或功能故障。
6、射頻場(chǎng)感應(yīng)傳導(dǎo)抗擾度試驗(yàn)（Conducted Susceptibility Testing）：傳導(dǎo)模擬干擾測(cè)試旨在評(píng)估設(shè)備是否容易受到電源線(xiàn)或信號(hào)線(xiàn)上的傳導(dǎo)模擬干擾的影響。
7、雷擊浪涌測(cè)試（Surge Testing）：浪涌測(cè)試評(píng)估設(shè)備是否能夠抵御電源線(xiàn)上的瞬態(tài)過(guò)電壓，通常由雷電或電網(wǎng)問(wèn)題引起。
胡玲 2012年進(jìn)入億博檢測(cè)技術(shù)有限公司，擔(dān)任高級(jí)銷(xiāo)售顧問(wèn)。
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